產(chǎn)品時間：2025-09-09
Avenir德國NYLIS高分辨紫外可見光纖光譜儀 NYLIS光譜儀是緊湊型Czerny-Turner陣列光譜儀，分辨率可低至 0.05 nm（FWHM）。該產(chǎn)品基于Aris系列光譜儀研發(fā)，在更長的外殼結(jié)構(gòu)中采用了120 mm的更大焦距設(shè)計。
Avenir德國NYLIS高分辨紫外可見光纖光譜儀
NYLIS光譜儀是緊湊型Czerny-Turner陣列光譜儀，分辨率可低至 0.05 nm（FWHM）。該產(chǎn)品基于Aris系列光譜儀研發(fā)，在更長的外殼結(jié)構(gòu)中采用了120 mm的更大焦距設(shè)計。這一設(shè)計不僅能實現(xiàn)更優(yōu)的光學(xué)成像效果，還可支持更窄的波長范圍 —— 兩者共同作用，使該儀器在此尺寸下實現(xiàn)了的光譜分辨率。NYLIS系列光譜儀提供12種標(biāo)準(zhǔn)波長范圍配置，還可根據(jù)具體應(yīng)用需求進(jìn)行定制。儀器標(biāo)配10μm入射狹縫和 4096像素CMOS傳感器。由于采用更長的焦距和更窄的入射狹縫，NYLIS光譜儀的靈敏度低于Aris系列光譜儀。該儀器主要適用于對分辨率要求高、但對靈敏度無高要求的場景，例如激光輻射測量。若您的應(yīng)用場景同時需要高靈敏度與高分辨率，請聯(lián)系我們以獲取最佳解決方案。
主要特點
· 分辨率低至 0.05 nm（FWHM）
· 波長范圍：185-1100 nm
· 焦距：f = 120 mm
· 可定制波長范圍
圖像傳感器
NYLIS系列光譜儀采用濱松（Hamamatsu）S13496 型圖像傳感器，其 4096 像素設(shè)計是實現(xiàn)分辨率的理想選擇。
濱松（Hamamatsu） S13496 | |
傳感器類型 | CMOS |
像素數(shù)量 | 4096 |
曝光時間 | 54 μs - 35 min |
信噪比* | 550 |
動態(tài)范圍** | 5500:1 |
讀出噪聲*** | 11計數(shù) |
觸發(fā)抖動 | ≤ 1 μs |
*無平均處理時的最大信噪比
** 無平均處理，單像素條件下的動態(tài)范圍
*** 單次曝光的典型均方根值（RMS），按 16 位縮放
波長范圍與分辨率
NYLIS系列光譜儀提供以下標(biāo)準(zhǔn)配置，定制波長范圍可聯(lián)系我們咨詢。
波長范圍 | 分辨率（FWHM） | |
典型值（typ.） | 最大值（max.） | |
400 - 1000 nm | 0.33 nm | 0.37 nm |
380 - 750 nm | 0.16 nm | 0.19 nm |
750 - 1100 nm | 0.17 nm | 0.20 nm |
380 - 540 nm | 0.08 nm | 0.10 nm |
470 - 630 nm | 0.08 nm | 0.10 nm |
580 - 740 nm | 0.08 nm | 0.10 nm |
980 - 1100 nm | 0.09 nm | 0.11 nm |
400 - 500 nm | 0.05 nm | 0.06 nm |
500 - 600 nm | 0.05 nm | 0.06 nm |
620 - 700 nm | 0.05 nm | 0.06 nm |
740 - 810 nm | 0.05 nm | 0.06 nm |
800 - 860 nm | 0.05 nm | 0.06 nm |
上述分辨率基于默認(rèn)的 10 μm 入射狹縫得出。增大入射狹縫寬度通常會使分辨率和靈敏度隨狹縫寬度成比例提高。波長精度通常為分辨率的 1/3。
光學(xué)特性
光學(xué)設(shè)計 | 對稱式Czerny-Turner |
焦距 | 120 mm |
數(shù)值孔徑 | 0.07（等效面積） |
雜散光 | 0.1% |
探測器鏡頭 | 含（標(biāo)配） |
級次分選濾光片 | 含（按需提供） |
光學(xué)接口 | SMA 接口（可按需提供其他接口） |
電子學(xué)特性
電源供應(yīng) | 通過 USB 或輔助（Aux）接口提供 5V 電壓 |
供電電壓范圍 | 4.4 - 5.5 V |
功耗 | ≤ 70 mA |
A/D轉(zhuǎn)換器 | 16 位，2 MHz |
非線性度 | < 1% |
光譜緩存區(qū)容量 | 31個光譜 |
自動曝光 | 測量過程中板載實現(xiàn)（含曝光時間與平均化處理） |
最快重復(fù)時間 | 4.4 ms |
至主機(jī)電腦的傳輸時間 | 通過 USB（32 位）：20 ms 通過 USB（16 位）：10 ms |
板載處理 | 平均化、緩存及光譜處理（含偏移量、非線性度、暗光譜與參比光譜校正） |
數(shù)字接口 | USB 2.0 全速、通用異步收發(fā)傳輸器（UART）；按需提供：串行外設(shè)接口（SPI）、集成電路總線（I2C） |
輸入 / 輸出接口 | 觸發(fā)輸入（Trigger in）、觸發(fā)輸出（Trigger out）、模擬輸入（Analog in）、模擬輸出（Analog out）；按需提供：可編程輸入/輸出引腳（GPIO）、閃光燈脈沖發(fā)生器 |
連接器 | USB 接口：Type-C 型 輔助接口（Aux connector）：16 針 IDC 接口（絕緣位移連接器） |
絕對最大額定值
最小值 | 最大值 通電狀態(tài) | 最大值 斷電狀態(tài) | |
供電電壓 | -0.3 V | 5.5 V | |
模擬輸入引腳 | -0.3 V | 4.0 V | 3.6 V |
數(shù)字輸入引腳 | -0.3 V | 6.0 V | 3.6 V |
輸出引腳 | 不適用任何外加電壓 | ||
溫度 | -40 °C | 70 °C | 70 °C |
機(jī)械特性與環(huán)境條件
尺寸 | 67.0 × 150.0 × 19.0 毫米 * |
重量 | 178 克 |
存儲溫度 | -40 至 70 °C |
工作溫度 | -20 至 60 °C |
濕度 | 0 至 90%（無冷凝） |
標(biāo)配配件
· USB 線纜
· 含軟件與文檔的 USB 閃存盤
· 快速入門指南（Quick start guide）
· 校準(zhǔn)與測試報告（Calibration and test report）
可選配件
· 更大尺寸入射狹縫（用戶可更換）：可選狹縫尺寸為 10、20、50、75、100、150、200、300 μm
· 光纖跳線
· 余弦校正器
· SMA 準(zhǔn)直器
· 直接連接式準(zhǔn)直器
Avenir德國NYLIS高分辨紫外可見光纖光譜儀
